sinko-denki包装针孔检测技术的原理
左图为封装后的针孔检测装置的检测轮廓。
如果在封装通过检查电极下方时检测到针孔或密封不良,则检查电极与内容物之间以及接地电极与内容物之间将发生放电。
该设备检测是否存在这种放电,并确定包装中针孔的质量。
图 4 用等效电路代替了针孔检查的示意图。
C1是检查电极和内容物之间形成的电容,C2是接地电极和内容物之间形成的电容。R是内容物的电阻。
如果接地电极比检查电极大,C2 的阻抗与 C1 相比可以忽略不计,则可以将其视为 C1 和 R 的串联电路,如图 5 所示。
此外,如果内容物是导电的并且电阻可以忽略不计,电路配置将与上一节中的图3相同,并且可以进行稳定的针孔检查。
如果在电极之间施加不破坏包装材料而仅破坏空气绝缘的电压,则如果包装材料有针孔或密封不良,则会发生放电。通过检测有无这种放电,可以判断产品针孔的质量。
sinko-denki包装针孔检测技术的条件
能否通过高压放电法对包装品进行针孔检查,取决于电极间施加的电压(外加电压)、包装材料的绝缘强度、内容物的电特性、形状等. 因此,针孔检查需要满足以下条件。
1 包装材料的特性
包装材料必须具有较高的电绝缘性,并具有相对于检验电压足够大的介电强度。
■ 如果绝缘低,可能会导致误检测。
■ 如果边缘强度低,则有损坏完好包装材料的风险。
2 内容物条件
内容物必须在包装材料中填充良导体。
■ 即使内容物是导电的,如果它们具有高电阻,则可能无法进行针孔检查。
■ 根据产品的形状、内容物的形状、特性、包装条件等,可能无法进行针孔检查。
请联系我们了解检查的可用性。
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