使用图像分析设备Mac-View Version.5进行粉末测量的好处

发布日期：2025-01-10 浏览次数：258

使用图像分析设备Mac-View Version.5进行粉末测量的好处

结合各种识别工具，测量分析各类颗粒物

通过读取SEM、TEM等拍摄的图像并识别目标颗粒，自动计算粒径分布并将颗粒形状数字化。
通过使用手写板的手动分析工具，可以轻松识别形状复杂的颗粒和团聚颗粒。

Mac-View Version.5 中的新功能和改进

・在粒子获取模式中添加了“针状"

・提高自动识别处理速度
・提高自动识别精度
・符合JIS8827-1（2018）

■凝集粒子的一次粒径分析

现在可以评估聚集颗粒的初级粒径，这在以前是很困难的。

■纳米粒子的评价

只要尺度信息可用，无论颗粒大小如何，都可以进行分析。

■多边分析评估

可以自动测量粒度分布并分析颗粒形状（圆形度、长径比等）。此外，可以获得丰富的数据，从而可以评估聚集颗粒的初级颗粒。

■操作方便

它不需要任何特殊知识，并且易于操作，因此不需要操作人员任何技能水平。

■无需昂贵的资金投入

只要您准备好图像（jpeg、位图），在 PC 上安装软件后即可立即使用。

纳米粒子、凝聚粒子、颗粒、烧结体截面、乳液粒径等

■综合粉末分析软件Mac-PIAS

Mac-PIAS是综合性粉末分析软件的新维度，可以集中管理和分析使用各种方法测量的“粒度分布数据"。

■筛分试验数据分析软件Macmesh

Macmesh 是一种工具，可以消除数据密集型筛分测试中的人为错误，并提高测试效率。

测量功能	面积、周长、长轴、短轴、最大长度、最小长度、海伍德直径、圆周椭圆当量直径、圆度系数、长宽比、形状系数 1 至 3、费雷特直径、马丁直径、克鲁姆宾直径、双轴平均直径、双轴几何平均直径、双轴调和平均直径、长度等
分析功能	粒径%、ON/PASS分析、体积/个数/长度转换、峰值数据分析、汇总数据分析、粒径分类转换、筛上/下转换、形状因子分析、数据合成、数据分组
其他功能	各种图形显示功能、各种打印输出功能、文本输出功能、图像输出功能等
运行环境	●运行Microsoft Windows 7/8/10（32/64位兼容）的PC/AT兼容机 *如果使用Windows 7/8，请使用Windows Update安装最新的更新程序。 ●USB 硬件密钥，用于通过可用的 USB 端口进行许可证验证（必需） ●连接扫描仪（兼容 TWAIN）和选购的液晶手写板时，需要 USB 端口等接口 ●显示：最高显示全高清分辨率（1,920 x 1,080） ●CPU：根据操作系统要求试用（CPU 1 GHz或更高） ●内存：2GB 内部硬盘至少需要200MB 可用空间 ●安装时需要 CD-ROM 驱动器
兼容标准	基于JIS Z8827-1

基本功能	数据转换功能（根据数据文件格式可选）、数据搜索功能、统计处理功能、控制图创建功能、累积/频率图显示、汇总数据分析（10级%数据、MV、MN、MA、CS、SD等）、多种数据覆盖、设定切换功能（粒度分级、筛顶筛底、体积/个数/面积/长度显示切换）、多种图形显示功能、多种打印输出功能
可选功能	Rosin/Ramler分析功能、对数正态分布切换功能、差异显示功能、合成/逆合成比率推断分析功能、峰值分割分析功能、自动通过/失败判断功能、创建各种数据转换器
运行环境	运行 Microsoft Windows 7/8/10 的 PC/AT 兼容机（兼容 32/64 位） ●配备 USB 端口，可用作 USB 硬件密钥，用于许可证认证（必需） ●CPU：操作系统要求（ CPU 1 GHz 或更高） ●内存：建议 2GB 或以上 ●内部硬盘至少需要 200MB 可用空间 ●安装时需要 CD-ROM 驱动器

基本功能	自动数据导入功能、筛子信息注册/调用功能、图形显示切换功能（筛顶/筛底、积分/频率、对数常态、松香拉姆勒等）、控制值设置/通过/失败判断功能、筛孔校正功能、数据比较・覆盖功能、各种报告打印输出功能
兼容标准	JIS Z 8801/Z 8815
运行环境	运行 Microsoft Windows 7/8/10 的 PC/AT 兼容机（兼容 32/64 位） ●配备 USB 端口，可用作 USB 硬件密钥，用于许可证认证（必需） ●CPU：操作系统要求（ CPU 1 GHz 或更高) ●内存：2GB建议如下： - 内置硬盘上至少需要 200 MB 的可用空间 - 安装期间需要 CD-ROM 驱动器 - 与电子天平通信时需要 RS-232C 端口。数字）。