在线式胶片厚度检测仪FT-A200H/FT-A200HR介绍
FT-A200H/FT-A200HR 是一款高精度胶片厚度测量设备,专为高精度连续测量而设计。该设备配备了高精度测量头和放大器单元,能够直接从生产线上切取薄膜并进行实时厚度测量,确保产品质量和生产效率。
高精度测量:
采用高精度测量头和放大器单元,确保测量结果的准确性和可靠性。
测量分辨率高达 0.01μm,满足高精度需求。
连续测量:
支持从生产线上直接切取薄膜进行连续厚度测量,无需中断生产流程。
实时监控厚度变化,确保产品一致性。
宽测量范围:
FT-A200H:测量范围为 10μm 至 200μm。
FT-A200HR:测量范围为 3μm 至 100μm,适合更薄材料的测量。
用户友好设计:
操作简单,只需将薄膜放入设备即可自动测量。
配备直观的显示界面,方便用户查看数据和操作。
数据记录与分析:
自动记录测量数据,支持数据导出和进一步分析。
提供厚度分布图、统计报表等功能,便于质量控制和工艺优化。
参数 | FT-A200H | FT-A200HR |
---|---|---|
测量范围 | 10μm 至 200μm | 3μm 至 100μm |
测量分辨率 | 0.01μm | 0.01μm |
适用材料 | 薄膜、胶片等 | 超薄薄膜、精密材料 |
测量速度 | 可调,适应生产线速度 | 可调,适应生产线速度 |
电源要求 | 220V AC, 50/60 Hz | 220V AC, 50/60 Hz |
设备尺寸 | 1200 x 800 x 1500 mm | 1200 x 800 x 1500 mm |
重量 | 约 150 kg | 约 150 kg |
薄膜生产:实时监控薄膜厚度,确保产品符合规格。
质量控制:检测厚度均匀性,防止生产缺陷。
研发与实验室:用于新材料和工艺的厚度测试与分析。
精密制造:适用于超薄材料的厚度测量,如光学薄膜、电子薄膜等。
定期校准:建议每三个月进行一次校准,以确保测量精度。
清洁测量头:定期清洁测量头,避免灰尘或杂质影响测量结果。
检查设备状态:定期检查电源、连接线和机械部件,确保设备正常运行。
避免在高温、高湿或粉尘较多的环境中使用。
操作时请佩戴防护装备,确保安全。
如需更换测量头或进行维修,请联系专业技术人员。
FT-A200H/FT-A200HR 是一款功能强大、精度高的胶片厚度测量设备,适用于薄膜生产和精密制造领域。其高分辨率、宽测量范围和连续测量能力,使其成为质量控制和工艺优化的理想选择。如需更多信息,请参考用户手册或联系供应商。