运用于薄膜厚度检测的便携式薄膜测厚仪QNIx系列

发布日期：2021-06-15      浏览次数：825

 运用于薄膜厚度检测的便携式薄膜测厚仪QNIx系列

 

可从繁琐的膜厚测量中轻松提高生产效率的便携式膜厚计。

QNIx 系列是一款无需携带沉重的膜厚计即可使用超轻量紧凑型仪器和探头测量膜厚的产品。
由于无线测量，无需电缆。除了便于将测量数据传输到个人计算机之外，它还有助于防止测量过程中发生坠落事故。

QNIx系列的特点

无需薄膜校准即可准确测量薄膜厚度

出厂时输入16点校准数据交货。这消除了麻烦的薄膜校准工作的需要，并实现了精确的薄膜厚度测量。

薄膜厚度测量数据传输新技术

在传统的测量仪器中，测量数据是通过用电缆连接仪器本体和个人计算机来传输的。QNIx 系列使用，只需将其插入 USB 端口即可传输。可以更快、更轻松地查看测量数据。

超轻量无线测量仪

探头测量的数据无线传输到主机。它还可以像传统产品一样降低被电缆夹住、挡路并导致坠落事故的风险。此外，探头重 30g，超轻，您无需随身携带沉重的仪器。

不易折断且不会在被测物体上留下痕迹的探头

QNIx 系列探头被增强塑料包围，将耐用性提高 30%。即使发生故障，也易于拆卸和维修，因此缩短了维修周期。此外，还附有红宝石尖DUAN，因此可以安全地进行测量，而不会损坏被测物体（样品）。

QNIx系列比较规格表

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx 车检系统	QNIx 好用
可测膜	[F]铁材料上的非磁性涂层 [N]有色材料上的非导电涂层 [FN]铁/有色材料上的非磁性/非导电涂层			[FN]铁/有色金属材料上的非磁性/非导电涂层	[FN]铁/铝材料上的非磁性、非导电膜厚度
材料识别	黑色金属和有色金属材料的 自动识别交换	黑色金属和有色金属材料的 自动识别交换	用户的转换	黑色金属和有色金属材料的 自动识别交换	铁/有色，自动识别模式转换
测量原理	[F]磁通量（霍尔效应） [N]涡流
测量范围	0 至 2,000 μm （选项：5,000 μm）	0-3,000 微米	0 至 2,000 μm （选项：5,000 μm）	0-5,000 微米	0-500微米
分辨率	0.1 μm, 1 μm [M] 0.01 μm	1微米	0.1微米	0.1 微米、1 微米	5微米
配置格式	0 点校正 用户校准：1 [M] 100 件	0点修正	0点修正	无校准功能	无校准功能
准确性	± (1 μm + 2%) ± 3.5% (2 mm 或更大) [T] ± (0.3 μm + 2%)	± (2 μm + 3%)	± (1 μm + 3%)	± (1 μm + 2%) ± 3.5% （2 mm 或更大）	± (10 μm + 5%)
测量速度	1,500ms （约40次/分钟） [T] 920ms （约65次/分钟） [R] 1,600ms （约37次/分钟）	600ms （约70次/分钟）	1,300ms （约46次/分钟）	1,500ms （约40次/分钟）	600ms （约100次/分钟）