故障测试 HIT-5000 LSI 抗扰度测试仪介绍

发布日期：2021-12-20      浏览次数：799

故障测试 HIT-5000 LSI 抗扰度测试仪介绍



使用 TLP（传输线脉冲）的设备的抗扰度测试仪。 使用ESD枪的IEC64000-4-2对应设备的抗扰度测试仪很常见，但是当它到达LSI时，它变成了振动波形，结果，由于振动而向正方向摆动时会发生故障。是在负方向摆动时无法区分故障和故障的问题。 在该测试仪中，通过将矩形波直接施加到低阻抗 LSI 的引脚，可以区分正负故障。 通过使用可选的同步单元，可以很好地再现故障事件。 例如，在 CPU 的情况下，通过在 ROM / RAM / IO 访问的时间应用脉冲噪声，可以在每个时间进行抗扰度测试。 此外，方波易于建模为模拟信号源，并有望作为分析工具。 如下图所示，将连接器插入电源或GND线，连接应用探头，设置应用电压和应用次数。图中，过滤器在外部，过滤器的正面在设备内部。由于该设备没有检测 LSI 故障的功能，因此需要采取一些措施，通过在被测设备上安装监视器 LED 来检测故障。 使用同步单元时，需要将来自LSI的同步信号输入到同步单元中。