光学薄膜新款研发用测厚仪介绍

发布日期：2022-02-18      浏览次数：786

光学薄膜新款研发用测厚仪介绍



模型	TOF-6R001
测量方法	接触式/线性量规
测量对象	薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）
测量原理	线性规

产品特点

• 离线轻松快速地测量厚度

• 测量数据实时显示在屏幕上

• 测量数据可以自动保存在个人电脑上

• 由于是通过自动运输测量，所以测量数据没有个体差异。

• 也可用于调整雷达图上的充气膜。

• 实现接触式测量，小显示值为 0.01 μm

产品规格

测量厚度	5-100微米
测量长度	10 至 10000 毫米
测量间距	0.1毫米~
小显示值	0.01微米
测量压力	0.19 牛 (0.12 牛)
电源电压	AC100 伏 50/60 赫兹
工作温度限制	10-40℃
湿度	35-80%（无冷凝）
能量消耗	50 VA（不包括 PC）
选项	・卷纸打印机输出功能 ・连续测量功能 ・每个特殊的触控笔 ・图像传输功能