日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测CRN-100
产品特点
- 超高电阻范围:以非接触方式测量10E + 9至10E + 15Ω/□
- 平面多点测量功能
- 2D / 3D映射图像显示
- Windows 7软件
- 测量数据可以CSV文件格式输出
- 由于是非接触型,因此可以不受接触电阻的影响进行测量。
测量规格
测量目标
*通常,可以测量本设备测量范围内的任何样品。请联xi我们。
・超高电阻薄膜样品(a-Si,IGZO等)
・半导体材料接近绝缘
・导电橡胶
这样
测量尺寸
尺寸:z大300 x 400毫米
厚度:z大2毫米
*我们可以自定义您的要求,例如尺寸支持。请联xi我们。
测量范围
10E + 9〜10E + 15Ω/□