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日本NCC制造设备的清洁度检查灯Mgear 可以产生极其强大的直线光，具有粗光轴，即使在正常明亮的条件下也可以人工产生丁达尔效应，并使漂浮在太空中的尘埃可见。此外，可以使用暗场照明方法来可视化累积和粘附的灰尘。
更新日期：2024-03-25 访问量：734
日本NCC工作环境中墙壁灰尘检查灯Mgear 可以产生极其强大的直线光，具有粗光轴，即使在正常明亮的条件下也可以人工产生丁达尔效应，并使漂浮在太空中的尘埃可见。此外，可以使用暗场照明方法来可视化累积和粘附的灰尘。
更新日期：2024-03-25 访问量：1255
日本NCC工作环境中地板灰尘检查灯Mgear 可以产生极其强大的直线光，具有粗光轴，即使在正常明亮的条件下也可以人工产生丁达尔效应，并使漂浮在太空中的尘埃可见。此外，可以使用暗场照明方法来可视化累积和粘附的灰尘。
更新日期：2024-03-25 访问量：898
日本NCC洁净室浮尘检查灯Mgear 可以产生极其强大的直线光，具有粗光轴，即使在正常明亮的条件下也可以人工产生丁达尔效应，并使漂浮在太空中的尘埃可见。此外，可以使用暗场照明方法来可视化累积和粘附的灰尘。
更新日期：2024-03-25 访问量：692
日本NCC浮尘可视化检查灯ZEUS 无极灯 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：830
日本NCC产品表面异物检查灯ZEUS 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：762
日本NCC气流可视化尘检查灯ZEUS 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：680
日本NCC产品表面灰尘检查灯ZEUS 无极灯 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：740
日本NCC工作台灰尘检查灯ZEUS 无极灯 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：786
日本NCC地板灰尘检查灯ZEUS 无极灯 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：724
日本NCC墙壁灰尘检查灯ZEUS 无极灯 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：704
日本NCC手持式灰尘可视化检查灯ZEUS 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：1052
日本NCC异物缺陷检查灯ZEUS 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：805
日本NCC室内灰尘检查灯ZEUS 为什么灰尘和异物造成的缺陷没有减少？这是因为10μm到100μm的灰尘、污垢和被称为“粗颗粒”的异物受到重力的影响，在制造现场的各处（墙壁、地板、工作台、产品表面）积聚。
更新日期：2024-03-25 访问量：823
日本sena玻璃晶圆目视检查灯185LE 高照度照明设备（表面检查灯）185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。 适合于TFT面板、CF（彩色滤光片），触摸屏制造等行业。
更新日期：2024-03-24 访问量：1110
